EV1 防偽易碎標(biāo)簽
.產(chǎn)品尺寸：R35mm.協(xié) 議：ISO/IEC 14443A.頻 率：13.56MHz.芯 片：NXP ULTRALIGHT EV1.內(nèi) 存：1k bit.應(yīng) 用：主要應(yīng)用于酒類防偽追溯領(lǐng)域工作環(huán)境 -40℃-85℃存儲(chǔ)環(huán)境 -5℃-30℃數(shù)據(jù)有效期 10萬(wàn)次
.產(chǎn)品尺寸： R35mm
.協(xié) 議： ISO/IEC 14443A
.頻 率： 13.56MHz
.芯 片： NXP ULTRALIGHT EV1
.內(nèi) 存： 1k bit
.應(yīng) 用： 主要應(yīng)用于酒類防偽追溯領(lǐng)域
工作環(huán)境 -40℃-85℃
存儲(chǔ)環(huán)境 -5℃-30℃
數(shù)據(jù)有效期 10萬(wàn)次
天線尺寸 R28 mm
模切尺寸 R35 mm
縱向間距（天線） 27 mm
橫向間距（天線） 32 mm
卷料寬度 60 mm
表面基材 易碎紙
紙芯內(nèi)徑 76 mm（3 inch）
每卷數(shù)量 2000片
出卷方向 芯片朝上
質(zhì)量檢測(cè) 100%全檢，壞標(biāo)已替換